高低溫沖擊實驗箱

簡要描述：高低溫(wen)沖擊(ji)實驗箱(xiang)是(shi)利用低溫(wen)及高溫(wen)蓄冷熱溫(wen)度，依動作需(xu)要，將吊籃快(kuai)速(su)移動到(dao)冷,熱槽(cao)內,從(cong)而(er)達到(dao)快(kuai)速(su)溫(wen)度沖擊(ji)效果,平衡調溫(wen)控制系統(tong)(tong)（BTC）+ 特殊設(she)計(ji)之送風循環(huan)系統(tong)(tong),以P.I.D.方式控制SSR,使系統(tong)(tong)之加熱量等于(yu)熱損耗量,故能長期穩定(ding)的(de)使用。

產品型號：
廠商(shang)性質：生產廠家
更新時間：2023-10-16
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詳細介紹

高低溫沖擊實驗箱是一種用于測試產品在惡劣溫度條件下的耐受性和可靠性的設備。它可以模擬產品在高溫和低溫環境之間快速切換的情況，以評估產品在溫度變化時的性能、功能和物理特性。該實驗箱通常具有兩個獨立的測試室，一個用于高溫測試，另一個用于低溫測試，以確保產品在不同溫度下的工作和存儲條件下都能正常運行。通過進行高低溫沖擊測試，可以檢測產品的穩定性、材料的膨脹和收縮，以及連接部件的可靠性，從而幫助制造商改進產品設計和材料選擇。

高低(di)溫沖擊實驗箱(xiang)簡(jian)介：

本試(shi)驗箱又稱“冷熱(re)(re)沖擊試(shi)驗箱”是金屬、塑料(liao)、橡膠、電(dian)子等材(cai)(cai)料(liao)行(xing)業的測(ce)(ce)試(shi)設備(bei)，用于測(ce)(ce)試(shi)材(cai)(cai)料(liao)結(jie)構(gou)或(huo)復合材(cai)(cai)料(liao)，在瞬間(jian)下(xia)經高溫(wen)及低(di)溫(wen)的連續環(huan)境(jing)下(xia)忍(ren)受(shou)的程度，得(de)以在短(duan)時間(jian)內檢測(ce)(ce)試(shi)樣因熱(re)(re)脹冷縮(suo)所引起的化(hua)(hua)學變化(hua)(hua)或(huo)物理傷害(hai)。

高(gao)低溫沖擊實驗箱(xiang)執行(xing)與滿(man)足(zu)標準：

1、GB/T2423.1-2001低溫試(shi)驗方(fang)法;

2、GB/T2423.2-2001;

3、GB/T2423.22-1989溫度(du)變化試驗N;

4、GJ標GJB150.3-86;

5、GJ標GJB150.4-86;

6、GJ標GJB150.5-86;

7、GJB150.5-86溫度(du)沖擊試驗;

8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yan);

10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試(shi)驗箱(xiang)(xiang)——一箱(xiang)(xiang)式;

11、SJ/T10186-91Y73系(xi)列溫度變化試驗箱(xiang)——二箱(xiang)式;

12、滿足標準IEC68-2-14_試驗方(fang)法N_溫度變化。

高低溫沖擊箱規

格/SPEC:（可根據(ju)用戶產(chan)品尺(chi)寸(cun)進行設計定制）

型號：	OK-TS-49	OK-TS-80	OK-TS-150	OK-TS-225
內部尺寸(W×H×D)cm	40×35×30	50×40×40	60×50×50	70×60×60
外部尺寸(W×H×D)cm	145×180×140	150×185×145	185×150×250	190×170×270
蓄熱區儲能溫度范圍	RT (常溫)～+200℃
蓄冷區儲能溫度范圍	RT (常溫)～ -70℃
測試區實驗溫度范圍	熱沖實驗（+60℃～+150℃ ）
	冷沖實驗（A:0℃～-45℃/ B:0℃～-55℃ / C:0℃～-65℃）
沖擊方式	試品靜止（氣動氣缸風門切換高/低溫箱）
蓄熱區預熱時間	RT～150℃ 約 30分
蓄冷區預冷時間	RT～-70℃ 約 85分
沖擊恢復時間	低于5min
溫度控制精度	±0.5℃
溫度均勻度	±2.0℃
冷凍系統	全密閉式或半密閉式壓縮機，環保冷媒(R404A/R23)
材質	內箱SUS#304鏡面不銹鋼板, 外箱SUS#304不銹鋼板或烤漆。
保溫材質	高強度防火PU發泡絕緣材料
配件	引線孔：￠50mm 1個/不銹鋼SUS #304板置物架（二層）
電源	電源線位于機器后面/AC380±5%V /50±0.5Hz /3相5線/長2.5米

高低溫沖(chong)擊試驗箱(xiang)系(xi)統結構(gou)：

為待測(ce)品(pin)動態式(shi)冷(leng)﹑熱交替沖擊(ji)方(fang)式(shi),該(gai)方(fang)法為現在(zai)高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)方(fang)式(shi),廣泛使用(yong)于電子(zi)零(ling)組件測(ce)試(shi),汽車零(ling)部件,半導體,電子(zi)線路板,金屬化學(xue),材(cai)料等測(ce)試(shi)設備。試(shi)驗箱有(you)三(san)箱結構，分為高(gao)溫(wen)區(qu)(qu)(qu)，低(di)溫(wen)區(qu)(qu)(qu)，常溫(wen)區(qu)(qu)(qu)，常溫(wen)區(qu)(qu)(qu)即產品(pin)測(ce)試(shi)區(qu)(qu)(qu)，通過高(gao)溫(wen)區(qu)(qu)(qu)和低(di)溫(wen)區(qu)(qu)(qu)的風門控制切換(huan)沖擊(ji)溫(wen)度。

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